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光干涉透射法檢測元件厚度差的原理：

在激光干涉儀進行透射測量時，激光光源發出的單色光,垂直向下經過被檢元件上、下兩表面被標準反射鏡反射后會形成干涉條紋，每個點上所生的干涉條紋取決于該點上兩相干的光的光程差。當光程差為nλ+0.5λ時，顯示為暗條紋；當光程差為nλ+λ時，顯示為亮條紋；

所以，當被檢元件的兩個面不完全平行，存在楔角時，沿楔角方向，元件的厚度逐漸增大，相應的光程差也逐漸變大，沿楔角方向就會產生間隔分布亮暗條紋。楔角越大，條紋越密集。

檢測指標的簡單說明：

PV值在數學上的定義是峰谷值( Peak to Valley),即最大值和最小值的差值。單位是λ(波長)。對應到干涉儀透射檢測上，就是被檢元件的厚度差。 

RMS值在數學上的定義是均方根值(root-mean-square)，單位是λ(波長),這是一個統計值，RMS的大小反映了這些數據值的離散程度。對應到干涉儀透射檢測上，RMS值越小表明被檢元件的厚度平滑性越好，高低起伏越少。

條紋根數是肉眼可見的被檢元件厚度差的直觀表現，與PV值成線性關系。條紋根數越少表明被檢元件的厚度差越小。

序號	名稱	GBM08A
1	測量原理	菲索干涉原理
2	激光器	半導體激光器 635nm 940nm
3	有效孔徑	30mm   （允許同時管控8個孔）
4	標準鏡面形精度	0.05λ
5	面形值重復精度	PV 0.06λ(標準片)
6	面形值量程	PV 0～3λ
7	測試時間	PV測試：1秒；條紋數測試：1秒內
8	夾具	有
9	軟件	PVmeter
10	電源	220V 60W
11	通訊接口	USB
12	重量	15Kg
13	自動化接口	預留

 激光干涉儀GBM08A主要用于手機攝像頭的干涉條紋測試，

可測試635nm和940nm雙波段，

同時可以管控8個測試孔，測試速度快，數據準確度高，

而且機器配備防震動干擾設施，使得機器不受外界條件干擾，測試數據更加真實可靠，

是您測試手機攝像頭的不二選擇。